文天精策儀器科技(蘇州) 有限公司專精于溫控技術，擁有探針冷熱臺、光學冷熱臺、原位拉伸、原位XRD/SEM冷熱臺、超高溫熱臺、高低溫試驗箱等多款技術產(chǎn)品，及介電溫譜、電卡、充放電測試、變溫D33等測試系統(tǒng)。

掃描電鏡是一種用于高分辨率微區(qū)形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、分辨率高, 成像直觀、立體感強、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品可在三維空間內(nèi)進行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富, 幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結構、成分和結晶學信息等優(yōu)點。

目前,掃描電鏡已被廣泛應用于生命科學、物理學、化學、司法、地球科學、材料學以及工業(yè)生產(chǎn)等領域的微觀研究。

國儀量子的鎢燈絲掃描電鏡（SEM3200）是一款高性能、應用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。

↑ SEM冷熱臺↑

SEM冷熱臺是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標準樣品臺上（無需改造電鏡內(nèi)部），提供樣品原位變溫測試的電鏡附件。通過外接法蘭裝置實現(xiàn)對冷熱臺上的樣品進行控溫，穩(wěn)定后溫控精度最高可達±0.1℃ 可實現(xiàn)樣品變溫測試的溫度范圍：-185~200℃，滿足原位高低溫材料相變微觀表征。

SEM原位冷熱臺適合于各種樣品在掃描電子顯微鏡中進行高低溫結構研究，固定在現(xiàn)有樣品臺上。

我司為國儀量子定制SEM冷熱臺，與國儀量子鎢

燈絲掃描電鏡（SEM3200）配套工作，進行現(xiàn)場測試。

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                   SEM掃描電鏡-180℃～100℃測試

                           現(xiàn)場↑

↑溫度控制穩(wěn)定，精度±0.1℃，加熱過程中無電磁干擾↑